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KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀

KEW 3127絕緣電阻測(cè)試儀

絕緣電阻測(cè)量*高達(dá)10TΩ
短路電流*大5mA
寬廣測(cè)試范圍:250, 500,1000,2500,5000V
診斷絕緣測(cè)試:R, PI, DAR,DD, SV, RAMP (故障和燃燒模式),電容, 漏電
可通過(guò)藍(lán)牙無(wú)線通訊功能傳輸和顯示實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)到PC和Android device
記憶和記錄功能
過(guò)濾功能:減少現(xiàn)場(chǎng)高磁場(chǎng)干擾以獲得更穩(wěn)定地測(cè)試數(shù)據(jù)
大型背光源,用直方圖顯示數(shù)據(jù)
加強(qiáng)堅(jiān)固設(shè)計(jì)IP65為現(xiàn)場(chǎng)使用提供便利(蓋子密封)
使用可充電電池供電
符合國(guó)際**規(guī)格 IEC61010-1CAT.IV 600V 


 

聯(lián)系人：徐壽平

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